Spektrometry serii SFT, służące do pomiaru grubości powłok produkowane są od 1978 r. Aparaty SII do pomiaru gruboœci powłok wykorzystywane są przez wiodących producentów w przemyśle motoryzayjnym, elektronicznym oraz jubilerstwie. Model SFT-110 jest najnowszym urządzeniem z linii SFT. Szeroki wybór dostępnych opcji (różne kolimatory, stoliki, automatyczna regulacja odległości) oraz niska cena czynią SFT-110 bardzo ciekawą propzycją dla szerokiego grona klientów.
Istotne cechy SFT-110 to:
  • pomiar do 5 powłok/do 10 pierwiastków
  • pomiar od Ti do Bi
  • analiza wzorcowa oraz bezwzorcowa
  • lampa RTG: 50kV/1 mA
  • kolimator o średnicy 0.1 mm oraz 0.2 mm (opcjonalnie dostępny kolimator 0.05mm x 0.4 mm)
  • filtry: 1 jeden filtr + pozycja otwarta
  • zakres ruchu stolika: 250 (X) x 200 (Y) mm
  • mechanizm zapobieganający uderzaniu głowicy w próbkę
  • 2 kamery CCD umożliwijące podgląd analizowanego obiektu (opcja)
  • autofocus
  • automatyczna regulacja odległości roboczej (opcja)
Pobierz broszurę SFT 110 Seiko
Zobacz stronę producenta
© 2009 analityk.com. Wszelkie prawa zastrzeżone