Producentem oferowanych przez nas spektrometrów emisyjnych ze wzbudzeniem plazmowym (ICP-OES)
jest amerykańska firma Leeman Labs. Firma ta, jako pierwsza, wprowadziła ponad 20 lat temu
optykę typu Echelle do spektrometrów ICP-OES - optykę, która dziś stanowi standard. Efektem
wieloletniego doświadczenia popartego rzetelnymi badaniami i współpracą z licznymi użytkownikami
spektrometrów, są obecnie produkowane modele przyrządów:
- Prodigy - seria spektrometrów równoczesnych
- Profile - seria spektrometrów sekwencyjnych
Profile Plus to sekwencyjny spektrometr ICP-OES z optyką typu Echelle, o unikatowym
rozwiązaniu sposobu selekcji pomiarowych linii emisyjnych. Ta opatentowana metoda
- "ON PEAK" - polega na ustawieniu przemieszczającego się detektora na wybranej długości
fali, bez konieczności wcześniejszego przeszukiwania całego widma. Czas analizy ulega
znacznemu skróceniu, dzięki czemu Profile Plus jest najszybszym sposród sekwencyjnych
spektrometrów oferowanych na rynku. Dodatkowym atutem przyrządu jest eliminacja błędów
związanych z możliwością wyboru niewłaściwej długości fali (szczególnie przy pomiarze
bardzo niskich stężeń analizowanych pierwiastków), co ma miejsce w przypadku konwencjonalnie
stosowanego rozwiązania.
Najważniejsze parametry spektrometru Profile Plus:
- Optyka typu Echelle, długość monochromatora - 750 mm
- Siatka dyfrakcyjna - 50x100 mm, 79 linii/mm
- Zakres pomiarowy 168 -850 nm
- Rozdzielczość - co najmniej 0,006 nm przy 200 nm
- Detektor - 2 fotopowielacze, z których jeden przeznaczony jest dla obszaru UV, a drugi dla
obszaru VIS
- Generator RF o mocy 2000 W (max.)
- Przepływy gazów sterowane z poziomu oprogramowania przy użyciu regulatorów przepływu masowego.
Spektrometr dostępny jest w 3 konfiguracjach:
- Profile Plus Axial - z systemem osiowej obserwacji plazmy (palnik ułożony poziomo) w celu uzyskania
niskich granic wykrywalności oznaczanych pierwiastków
- Profile Plus Radial - z systemem radialnej obserwacji plazmy (palnik ułożony pionowo) do oznaczania
wyższych stężeń pierwiastków
- Profile Plus Dual View - z systemem podwójnej obserwacji plazmy poziomej (palnik ułożony poziomo) dzięki
automatycznym zmianom położenia lustra; rozwiązanie to daje największą elastyczność w doborze
optymalnych warunków pomiaru - analizowane pierwiastki mogą być oznaczane, w zależności od ich
stężenia, w systemie osiowej lub radialnej obserwacji plazmy.
Należy zaznaczyć, że w przyrząd jest w pełni zautomatyzowany - do sterowania, kalibracji, zapisu parametrów
pomiarowych i wynikow analiz oraz generowania raportów stosowany jest przyjazny software Win ICP.
Pobierz broszurę Profile Plus Leeman Labs
|
