Producentem oferowanych przez nas spektrometrów emisyjnych ze wzbudzeniem plazmowym (ICP-OES) jest amerykańska firma Leeman Labs. Firma ta, jako pierwsza, wprowadziła ponad 20 lat temu optykę typu Echelle do spektrometrów ICP-OES - optykę, która dziś stanowi standard. Efektem wieloletniego doświadczenia popartego rzetelnymi badaniami i współpracą z licznymi użytkownikami spektrometrów, są obecnie produkowane modele przyrządów:
  • Prodigy - seria spektrometrów równoczesnych
  • Profile - seria spektrometrów sekwencyjnych
       Profile Plus to sekwencyjny spektrometr ICP-OES z optyką typu Echelle, o unikatowym rozwiązaniu sposobu selekcji pomiarowych linii emisyjnych. Ta opatentowana metoda - "ON PEAK" - polega na ustawieniu przemieszczającego się detektora na wybranej długości fali, bez konieczności wcześniejszego przeszukiwania całego widma. Czas analizy ulega znacznemu skróceniu, dzięki czemu Profile Plus jest najszybszym sposród sekwencyjnych spektrometrów oferowanych na rynku. Dodatkowym atutem przyrządu jest eliminacja błędów związanych z możliwością wyboru niewłaściwej długości fali (szczególnie przy pomiarze bardzo niskich stężeń analizowanych pierwiastków), co ma miejsce w przypadku konwencjonalnie stosowanego rozwiązania. Najważniejsze parametry spektrometru Profile Plus:
  • Optyka typu Echelle, długość monochromatora - 750 mm
  • Siatka dyfrakcyjna - 50x100 mm, 79 linii/mm
  • Zakres pomiarowy 168 -850 nm
  • Rozdzielczość - co najmniej 0,006 nm przy 200 nm
  • Detektor - 2 fotopowielacze, z których jeden przeznaczony jest dla obszaru UV, a drugi dla obszaru VIS
  • Generator RF o mocy 2000 W (max.)
  • Przepływy gazów sterowane z poziomu oprogramowania przy użyciu regulatorów przepływu masowego.
       Spektrometr dostępny jest w 3 konfiguracjach:
  • Profile Plus Axial - z systemem osiowej obserwacji plazmy (palnik ułożony poziomo) w celu uzyskania niskich granic wykrywalności oznaczanych pierwiastków
  • Profile Plus Radial - z systemem radialnej obserwacji plazmy (palnik ułożony pionowo) do oznaczania wyższych stężeń pierwiastków
  • Profile Plus Dual View - z systemem podwójnej obserwacji plazmy poziomej (palnik ułożony poziomo) dzięki automatycznym zmianom położenia lustra; rozwiązanie to daje największą elastyczność w doborze optymalnych warunków pomiaru - analizowane pierwiastki mogą być oznaczane, w zależności od ich stężenia, w systemie osiowej lub radialnej obserwacji plazmy.
       Należy zaznaczyć, że w przyrząd jest w pełni zautomatyzowany - do sterowania, kalibracji, zapisu parametrów pomiarowych i wynikow analiz oraz generowania raportów stosowany jest przyjazny software Win ICP.

Pobierz broszurę Profile Plus Leeman Labs
© 2009 analityk.com. Wszelkie prawa zastrzeżone